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Capteur d'alignement de wafers à DEL
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La série HD-T1 est un nouveau capteur d'alignement de wafers. L'utilisation d'un faisceau à DEL permet désormais une détection très précise, à une résolution de 30µm. Ce capteur est idéal pour détecter l'excentricité des wafers, les encoches et les faces d'orientation. Grâce à la technique de détection d'images linéaires et à la méthode d'échantillonnage à haute vitesse, une grande variété d'objets peut désormais être détectée de manière stable et très précise et à des vitesses extrêmement élevées. Ainsi, ce capteur CCD est conçu pour être utilisé dans presque tous les secteurs industriels, en particulier la fabrication de pneumatiques ou la production de semi-conducteurs (circuits imprimés).
Caractéristiques :
- Aucune mesure de sécurité n'est requise
- Résolution élevée de 30µm
- Installation aisée
- Alignement de l'axe du faisceau inutile
- Faible consommation de courant de 70mA maximum
- Fonctions de réglage intégrées permettant d'ajuster la relation entre la mesure et la sortie analogique (coefficient directeur et coefficient de compensation de la droite)
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HD-T1030 |
HD-T1C |
| Type de capteur |
Capteur à utilisation spécifique |
| Largeur de détection |
30mm |
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| Portée |
30mm |
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| Degré de pollution |
3 (environnement industriel) |
| Température ambiante |
0 à + 40°C 0 à + 40°C |
| Humidité ambiante |
35 à 85% (humidité relative) |
| Luminosité ambiante |
3 000lx |
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| Source de lumière |
DEL rouge 650nm |
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| Tension d'alimentation |
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24V DC (±10%) |
| Consommation |
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Jusqu'à 70mA |
| Temps de réponse |
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0,5ms |
| Résolution |
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30µm |
| Linéarité |
- |
±1,0% de la pleine échelle |
| Matériau |
Boîtier : PEI, capot avant : verre, base de montage : aluminium |
Plastique |
| Câble |
0,5m |
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| Poids (env.) |
150g |
85g |
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Applications typiques de la série HD-T1
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Détection des excentricités de tranche ou des encoches
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Ioniseurs
Produits
